Sonde doppie angolate LFI / SCR 25
La serie IMG LFI / SCR 25 comprende sonde a doppio cristallo in due configurazioni (LFI e SCR), pensate per controlli dove serve precisione su bassi spessori e difetti in prossimità della zona ispezionata. È una soluzione utilizzata, ad esempio, per il controllo di saldature su materiali austenitici di basso spessore e per la ricerca di cricche su bassi spessori.
Entrambi i modelli sono disponibili con frequenze 1–4 MHz e possono essere configurati con angoli e focali standard o, su richiesta, personalizzati.
Esempi applicativi:
- Controllo saldature su materiali austenitici di basso spessore
- Controllo cricche su bassi spessori

















