Sonde doppie angolate LFI / SCR 20
La serie IMG LFI / SCR 20 comprende sonde a doppio cristallo in due configurazioni, pensate per applicazioni come il controllo di saldature su materiali austenitici di basso spessore e la ricerca di cricche su bassi spessori. Entrambi i modelli sono disponibili con frequenze 1–4 MHz e con geometrie/cristalli dedicati per garantire un setup coerente con l’ispezione richiesta.
Esempi applicativi:
- Controllo saldature su materiali austenitici di basso spessore
- Controllo cricche su bassi spessori

















